Développement d'un dispositif de mesure de l'amélioration des caractéristiques électriques locales sous l'effet de la contrainte – SELECT

L’ingénierie de contraintes a connu une évolution remarquable au cours de la dernière décennie, améliorant la performance des dispositifs en modulant les contraintes pour optimiser certaines propriétés fonctionnelles. Bien que principalement utilisée dans la fabrication de semi-conducteurs, cette approche présente un potentiel pour divers matériaux tels que les polymères, les métaux et les matériaux bidimensionnels. Pour progresser dans ce domaine, il est essentiel de comprendre le lien entre les comportements mécaniques et fonctionnels. Diverses méthodes de mise sous contrainte des matériaux existent mais l’étude de l’effet de la déformation sur les propriétés d’intérêt passe encore traditionnellement par des techniques d'analyse post-mortem et nécessite souvent l'intégration coûteuse et chronophage de dispositifs externes. Bien que certains systèmes aient été développés en MEB et TEM pour suivre in situ les effets de la déformation, des défis subsistent en microscopie champ proche où le maintien d’une imagerie haute résolution pendant la déformation pose un problème. Cette proposition vise à combler ces lacunes en développant un dispositif de déformation innovant, pleinement intégré à un AFM commercial fonctionnant sous divers environnements. Validé à travers des études sur des matériaux à base de PVDF, ce dispositif permettra une surveillance in situ en temps réel et pouvant être automatisée de l’évolution des propriétés mécaniques et électriques sous contraintes, démontrant ainsi son potentiel pour la recherche fondamentale et appliquée. A terme, ce projet aspire à offrir une solution prête à être commercialisée et conviviale pour les laboratoires, contribuant à la recherche et à l’éducation.