Caractérisation et modélisation élastique de films nanostructurés – Cmonano

Nous étudierons le comportement élastique de films minces nano structurés. En effet, la caractérisation du comportement mécanique de ces structures en relation avec leur microstructure, étape incontournable pour le développement d'applications technologiques, reste encore peu explorée. L'approche proposée vise à élaborer des films minces à microstructure contrôlée, à caractériser expérimentalement la réponse mécanique de ces films, en particulier par le développement de techniques expérimentales basées sur la diffraction, et à interpréter les résultats expérimentaux à l'aide d’une modélisation mécanique pertinente. Ce projet nécessite le développement instrumental d'une machine d’essai de traction pour des mesures in situ sur le synchrotron SOLEIL. Nous travaillerons sur des systèmes nanométriques modèles multicouches formés de composants immiscibles type W/Cu dont nous avons la maîtrise de fabrication (par PVD) et que nous pouvons caractériser à la fois en morphologie (MET) et texture (DRX). La réponse mécanique de ces films supportés sur substrat polyimide sera alors caractérisée dans le domaine élastique en traction uni- et bi-axiale à l’aide d’un diffractomètre X (aux laboratoires et/ou sur la ligne de lumière DIFFABS sur SOLEIL). La modélisation par homogénéisation sera développée à partir des expertises acquises sur films monolithiques non texturés et texturés.