Caractérisation in-situ, (photo)transport ultra rapide et électroluminescence à l'échelle nanométrique – INFERNO

Parmi les systèmes à faible dimensionnalité, les matériaux 2D et leurs hétérostructures van der Waals font partie des candidats les plus prometteurs pour supplanter les matériaux utilisés en opto-électronique. Néanmoins leur intégration reste limitée en raison du manque de connaissance des mécanismes physiques en jeu lors du photo-transport. Ce manque est lié à l’absence de technique expérimentale dédiée. L’objectif du projet INFERNO est de développer un instrument d’analyse multi-échelle temporelle et spatiale, in-situ, des mécanismes physiques en jeu dans les dispositifs optoélectroniques en fonctionnement. Cet instrument alliera la résolution spatiale ultime du microscope à effet tunnel à la résolution temporelle des techniques de spectroscopie optique et permettra d’effectuer simultanément une tomographie spatiale et temporelle des propriétés de transport et d’électroluminescence à l’échelle de la nanostructure individuelle.