Sondes nano-fabriquées pour la prochaine generation de la Microscopie à Force Photonique – HiRes-PFM

La microscopie à force photonique (PFM) est une technique d'imagerie à sonde locale basée sur les pinces optiques. Comme en microscopie à force atomique (AFM), elle fournit des détails sur la topographie d’un échantillon au niveau nanométrique. Mais en place d’un cantilever rigide utilisé en AFM, la PFM utilise un faisceau laser focalisé (pinces optiques) pour manipuler la sonde. Cela présente l’avantage potentiel d’appliquer une force beaucoup plus faible sur l’échantillon (une fraction de pN), et donc d’éviter les artefacts et les dommages rencontrés lors du balayage de matériaux souples tels que des cellules vivantes. Dans notre projet, nous visons à rapprocher la PFM des applications. En utilisant des sondes spécifiquement nano-fabriquées, nous augmenterons la résolution de la technique et, en proposant à la fois des améliorations techniques et des modalités totalement nouvelles, nous visons à faire de la PMF une technique mature.