Imagerie microonde active instantanée basée sur l’optique – OBIWAM

OBIWAM est un Projet transverse de Recherche Collaborative-Entreprises (PRCE) qui regroupe 3 partenaires industriels et deux académiques qui est très volontairement axé sur les applications.
Il a pour ambition de développer un système d’imagerie microonde active ultra rapide et haute résolution, pour des applications de sécurité (scanners corporels, vision à travers les murs, détection de cibles en environnement opaque, contrôle non destructif de bagages) en utilisant des fréquences microondes et des dispositifs photoniques et optoélectroniques. Le système proposé repose sur une nouvelle technique de mesure d’un signal unique, en réalisant un codage analogique des signaux reçus par un réseau d’antennes sur une seule voie de sortie. Cette technique est garante d’une architecture simplifiée, ne nécessitant qu’un seul convertisseur analogique numérique. Les signaux collectés à chaque antenne seront traités optiquement (gestion des retards) puis concentrés vers l’unique canal de sortie par le biais d’un sommateur optomicroonde, un des éléments clé du système. La conversion electro-optique sera réalisée grâce à des modulateurs intégrés sur Silicium, technologie photonique d’avenir permettant d’assurer la compacité et le faible coût du système. Grâce à un choix judicieux des retards optiques, les formes d'onde reçues par chaque antenne seront reconstruites en post-traitement en appliquant des algorithmes d’imagerie SIMO ou MIMO.
Les partenaires ont fixé comme objectif de fournir en fin de projet un démonstrateur novateur optomicroonde d’acquisition mono-coup et mono-canal pour la détection de cibles en temps réel. Il aura pour but de montrer les potentialités offertes par une approche innovante basée sur des systèmes optomicroondes peu encombrants et d’extrapoler, par la simulation, l’étude à un système présentant une meilleure résolution d’image. C’est pourquoi OBIWAM a pour challenge également le développement d’une plateforme de simulation système incluant tant les modèles des composants que le traitement du signal.