Fabrication de leviers de microscopie à force atomique pour des applications de spectroscopie Raman à exaltation de pointe – TIPTOP_1

TIPTOP_1 est un projet collaboratif industriel visant à lever le verrou technologique actuel en microscopie Raman à exaltation de pointe (TERS) qui est la disponibilité des sondes (pointes) de microscopie à force atomique (AFM) pour applications TERS, qui soient à la fois performantes, fiables, reproductibles et accessibles à tous les utilisateurs.
Le projet TIPTOP_1 se base sur des résultats préliminaires démontrant une géométrie innovante compatible des procédés de production de type micro-électronique et a pour objectifs scientifiques et industriels:
- la micro / nano fabrication de telles sondes AFM TERS avec l’objectif final d’une microfabrication en série ;
- la démonstration de l’utilisation de ces sondes sur des systèmes-modèles (dont certains non accessibles aux sondes actuelles) ;
- l’application de ces sondes dans le domaine de la nanoélectronique, et en particulier à la mesure de contraintes localisées dans des structures ultime pour transistors silicium.